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一种应力传感器及制作方法

  • 申请号:CN201510073321.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:华进半导体封装先导技术研发中心有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN104819789A
  • 公开(公开)日:2015.08.05
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种应力传感器及制作方法
申请号 CN201510073321.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN104819789A 公开(授权)日 2015.08.05
申请(专利权)人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 何洪文;孙鹏;曹立强;上官东恺;豆传国;杨恒;吴燕红
主分类号 G01L1/18(2006.01)I IPC主分类号 G01L1/18(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;B81B7/02(2006.01)I
专利有效期 一种应力传感器及制作方法 至一种应力传感器及制作方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种应力传感器,所述应力传感器包括:衬底,所述衬底具有第一凹槽;第一压阻层,覆盖所述第一凹槽内壁及部分衬底上表面,所述第一压阻层通过第一绝缘层与所述衬底隔离;第一传递层,填充满所述第一凹槽,且具有两个第三凹槽,所述两个第三凹槽沿所述第一凹槽槽长方向平行排列,所述第一传递层通过第二绝缘层与所述第一压阻层隔离;第一隔离层,填充满所述第三凹槽,所述第一隔离层通过第三绝缘层与所述第一传递层隔离;第一电极对,第二电极对,位于衬底上表面的所述第一压阻层上,所述第一电极对位于第一凹槽槽长延长线上,所述第二电极对位于所述第一凹槽槽宽延长线上,能够实现对非芯片上表面内应力分量的测量。

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