一种测量红外焦平面模块低温形变的装置
- 申请号：CN201520167953.7
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号：CN204514279U
- 公开(公开)日：2015.07.29
- 法律状态：
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 一种测量红外焦平面模块低温形变的装置 | ||
| 申请号 | CN201520167953.7 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN204514279U | 公开（授权）日 | 2015.07.29 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 张海燕;管建安;庄馥隆;汪洋;陈安森;龚海梅 |
| 主分类号 | G01B11/16(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/16(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种测量红外焦平面模块低温形变的装置 至一种测量红外焦平面模块低温形变的装置 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种测量红外焦平面模块低温形变的装置，该装置包括对窗口有特殊要求的测试杜瓦和激光干涉仪。其方法是把被测样品粘贴于真空杜瓦的冷头上，以激光干涉的方式非接触的获取样品表面形变信息，该实用新型的优点在于测试过程快速，样品温度可控，克服了传统测试方法的样品温度不稳定及表面结霜等固有困难。 | ||
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言