基于石英音叉的扫描近场光学显微镜成像系统
- 申请号:CN201510179862.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN104777331A
- 公开(公开)日:2015.07.15
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 基于石英音叉的扫描近场光学显微镜成像系统 | ||
| 申请号 | CN201510179862.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104777331A | 公开(授权)日 | 2015.07.15 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 杨惠霞;漆晓琼;谢亮 |
| 主分类号 | G01Q60/18(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/18(2010.01)I |
| 专利有效期 | 基于石英音叉的扫描近场光学显微镜成像系统 至基于石英音叉的扫描近场光学显微镜成像系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种基于石英音叉的扫描近场光学显微镜成像系统,该系统包括:一石英音叉;一压电陶瓷扫描台,所述石英音叉用圆头螺丝固定在压电陶瓷扫描台上;一锁相放大器,其端口1、端口2通过PCB板与石英音叉的两端相连;一光电倍增管,其输入端通过一滤光片组与收集光纤探针相连;一激光器,其输出端与一激发光纤探针相连;一控制箱,其端口与光电倍增管的输出端相连,其端口与锁相放大器的端口3相连,其端口3与压电陶瓷扫描台相连;一电脑,其输入端与控制箱的端口4相连。本发明可以提高现有的近场光学显微镜的灵敏度。 | ||
交易流程
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