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绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置

  • 申请号:CN201510165558.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院测量与地球物理研究所
  • 公开(公开)号:CN104765075A
  • 公开(公开)日:2015.07.08
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置
申请号 CN201510165558.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN104765075A 公开(授权)日 2015.07.08
申请(专利权)人 中国科学院测量与地球物理研究所 发明(设计)人 田蔚;张为民;钟敏;吴晓敏;胡明
主分类号 G01V13/00(2006.01)I IPC主分类号 G01V13/00(2006.01)I
专利有效期 绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置 至绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置,包括:隔振平台、支撑结构、第一激光干涉仪、第一参考棱镜、落体真空腔、对顶双棱镜形成的落体结构、第二激光干涉仪、第二参考棱镜;其中第一参考棱镜和第二参考棱镜刚性连接,即它们的运动完全一致;当对顶双棱镜形成的落体在落体真空腔中自由下落时,会在第一激光干涉仪和第二激光干涉仪中分别形成干涉信号,通过探测器分别探测两套激光干涉仪的干涉信号,由于光速有限效应在两套干涉仪中的作用效果是相反的,而重力加速度、振动噪声和其他噪声等对两套激光干涉仪的作用效果是相同的,是共模信号,因此通过数据处理实现两套激光干涉仪信号的差分测量,就可以直接测量绝对重力仪中光速有限效应的大小。

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