专利详情

专利名称	一种全角度发射率/反射率测试平台
申请号	CN201510129356.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104749204A	公开（授权）日	2015.07.01
申请（专利权）人	中国科学院工程热物理研究所	发明（设计）人	周小明;淮秀兰;李勋锋;成克用
主分类号	G01N25/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01N25/00(2006.01)I
专利有效期	一种全角度发射率/反射率测试平台至一种全角度发射率/反射率测试平台	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种全角度发射率/反射率测试平台：一固定平台，该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台，中央放置台的中心位置放置待测的金属块；固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座，一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上，以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转，该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方；横梁旋转支架的中间是发射光源的固定位置；中央旋转台的一侧上设有一旋转底座，一L型旋转支架的一端可转动地连接在旋转底座上，以旋转底座为支撑点作180度旋转；该L型旋转支架的另一端设有探测器，该探测器位于横梁旋转支架发射光源的下方。本发明可以全角度测量金属块辐射率，不存在死角。