专利详情

专利名称	一种基于相位恢复的稀疏微波成像自聚焦方法及装置
申请号	CN201310737404.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104749571A	公开（授权）日	2015.07.01
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	张拓;张冰尘;赵曜;洪文;吴一戎
主分类号	G01S13/89(2006.01)I	IPC主分类号	G01S13/89(2006.01)I;G01S7/41(2006.01)I
专利有效期	一种基于相位恢复的稀疏微波成像自聚焦方法及装置至一种基于相位恢复的稀疏微波成像自聚焦方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于相位恢复的稀疏微波成像自聚焦方法及装置。所述方法包括：步骤S1：构建稀疏微波成像相位误差模型；步骤S2：构建稀疏微波成像相位误差模型的优化目标；步骤S3：采用相位恢复算法对式所述稀疏微波成像相位误差模型的优化目标进行求解，得到相位误差矩阵Θ的估计值；步骤S4：采用稀疏微波成像的正则化成像算法进行成像，在已有相位误差矩阵Θ的条件下，实现对后向散射系数σ的恢复，重建场景信息，实现高分辨成像。本发明提出的上述方案工作于稀疏微波成像体制下，直接从回波信号中求解得到误差相位并实现高精度成像，无需依赖传感器得到载机平台的运动信息，实现了自聚焦的目的，可在稀疏微波成像体制下得到广泛应用。