确定阵元位置误差对阵列天线三维成像质量影响的方法
- 申请号:CN201310716836.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN104698444A
- 公开(公开)日:2015.06.10
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 确定阵元位置误差对阵列天线三维成像质量影响的方法 | ||
| 申请号 | CN201310716836.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104698444A | 公开(授权)日 | 2015.06.10 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 谭维贤;丁振宇;王彦平;洪文 |
| 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/40(2006.01)I |
| 专利有效期 | 确定阵元位置误差对阵列天线三维成像质量影响的方法 至确定阵元位置误差对阵列天线三维成像质量影响的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种确定阵元位置误差对阵列天线三维成像质量影响的方法。该方法包括:在三维空间中分布阵列天线和点目标P,接收输入的阵元位置测量误差(Δxnm,Δynm,Δznm);基于该阵列天线及该阵元位置测量误差(Δxnm,Δynm,Δznm)建立阵列天线信号模型,生成所述点目标P的回波信号srnm(t);对所述点目标P的回波信号srnm(t)进行匹配滤波处理得到sonm(t);根据匹配滤波后的回波信号sonm(t)计算点目标P在跨航向、航迹向和高程向上的点扩展函数、峰值旁瓣比和积分旁瓣比。本发明能够总体上定量分析阵元位置误差对三维图像成像质量的影响,从而为测量设备及运动补偿算法的选择提供参考依据。 | ||
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