专利详情

专利名称	基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法
申请号	CN201510067863.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104614072A	公开（授权）日	2015.05.13
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	刘军;黄政
主分类号	G01J3/45(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/45(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I
专利有效期	基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法至基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种基于全反射镜的二维光谱测量装置，包括：分束挡板、方形柱体四面反射镜、第一延时反射镜、第二延时反射镜、第三延时反射镜、第四延时反射镜、空间滤波器、衰减片、第一凹面反射镜、样品、第二凹面反射镜、挡光板和光谱测量装置，本发明无透射元件，故没有透射带来的色散效应和窄光谱限制，同时消除了光束延时调节时所带来的光束移位问题，使得装置更加紧凑，稳定，可以在很宽的光谱范围内进行光谱探测。在同一装置上还可以同时探测样品的泵浦-探测光谱，用于二维光谱的相位校正。