去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统
- 申请号：CN201410816820.8
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院深圳先进技术研究院
- 公开(公开)号：CN104586394A
- 公开(公开)日：2015.05.06
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统 | ||
| 申请号 | CN201410816820.8 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104586394A | 公开（授权）日 | 2015.05.06 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 |
| 主分类号 | A61B5/055(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/055(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统 至去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种去除磁共振弥散张量成像噪声的方法和系统，其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质，利用弥散加权图像的稀疏性，采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵。本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响，可以更有效地抑制弥散张量中的噪声，提高弥散张量的估计精度。 | ||
交易流程
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