微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法
- 申请号：CN201510066892.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学技术大学
- 公开(公开)号：CN104569974A
- 公开(公开)日：2015.04.29
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法 | ||
| 申请号 | CN201510066892.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104569974A | 公开（授权）日 | 2015.04.29 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 王东进;孟青泉;郭圆月;陆广华;刘波;田超 |
| 主分类号 | G01S13/89(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/89(2006.01)I |
| 专利有效期 | 微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法 至微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种微波凝视关联成像系统的随机辐射阵元排布定量表征方法，该方法通过阵元相对位置矢量的模长与相位在取值范围内分布的均匀性来描述阵元排布随机性；由于辐射阵元的空间排布越随机，阵元分布熵越大，可以有效对阵元空间排布的随机性进行定量表征，并且以阵元分布熵最大为准则，采用优化算法可得到最优的阵元空间排布，进而实现高分辨率成像。 | ||
交易流程
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