一种可校正系统像差的太阳光栅光谱成像装置
- 申请号：CN201510044155.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号：CN104568149A
- 公开(公开)日：2015.04.29
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种可校正系统像差的太阳光栅光谱成像装置 | ||
| 申请号 | CN201510044155.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104568149A | 公开（授权）日 | 2015.04.29 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 饶长辉;郑联慧;顾乃庭 |
| 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种可校正系统像差的太阳光栅光谱成像装置 至一种可校正系统像差的太阳光栅光谱成像装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供一种可校正系统像差的太阳光栅光谱成像装置，在不明显增加成本和系统复杂性的前提下，通过在光谱仪系统焦面的共轭位置引入波前探测器，与集成在望远镜系统中的自适应光学系统构成了一个双波前探测器的自适应光学系统。使太阳光栅光谱成像装置不仅具有校正动态波前像差的能力，同时具有校正整个光学系统静态像差的能力。这对于提高光谱成像装置的光谱成像质量具有重要意。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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