专利详情

专利名称	一种神经电极的修饰检测方法及系统
申请号	CN201410827264.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104545903A	公开（授权）日	2015.04.29
申请（专利权）人	中国科学院深圳先进技术研究院	发明（设计）人	鲁艺;王立平;钟成
主分类号	A61B5/0478(2006.01)I	IPC主分类号	A61B5/0478(2006.01)I;A61N1/05(2006.01)I
专利有效期	一种神经电极的修饰检测方法及系统至一种神经电极的修饰检测方法及系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种神经电极的修饰检测方法及系统，所述方法包括：控制单元向信号发生器发送控制信号；所述的信号发生器根据所述的控制信号向电压源输出波形控制信号，所述的波形控制信号用于控制电压源输出特定波形的电压，所述的特定波形为方波和/或三角波和/或正弦波；所述的电压源根据所述的波形控制信号向电极阵列施加所述特定波形的电压以进行电化学修饰；所述的电极阵列输出施加所述特定波形的电压后的电流值；所述的控制单元根据所述的电流值以及所述特定波形的电压确定进入的工作模式，所述的工作模式包括循环模式和终止模式。本发明实现了标准化和自动化的微电极电化学修饰和界面阻抗检测。