专利详情

专利名称	同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置
申请号	CN201420769999.1	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN204286459U	公开（授权）日	2015.04.22
申请（专利权）人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	发明（设计）人	伍俊;荣亮亮;邱隆清;孔祥燕;谢晓明
主分类号	G01C25/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01C25/00(2006.01)I
专利有效期	同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置至同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置	法律状态
说明书摘要	本实用新型涉及一种同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置，所述的装置由CompactRIO控制器NI?CRIO?9025(1)、CompactRIO可重配置机箱NI?CRIO?9118(2)、Delta-Sigma型ADC?NI?9239A(3)、Delta-Sigma型ADC?NI?9239B(4)、Delta-Sigma型ADC?NI?9239C(5)、数字IO模块NI?9402(6)、GPS组合惯导SPAN?LCI(7)、工作环境监测组件(8)、SQUID读出电路(9)以及串口通讯模块NI?9871(10)组成。并在此基础上增加函数发生器33622A(11)、高速示波器DSO9404A(12)和测试信号驱动电路(13)通过线缆连接对应的信号接口；所述的装置具有实现简单可操作性强，对成功研制超导全张量磁梯度测控装置意义重大。