使用在光纤点衍射干涉仪波面参考源中的偏振控制方法
- 申请号:CN201410787519.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN104536146A
- 公开(公开)日:2015.04.22
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 使用在光纤点衍射干涉仪波面参考源中的偏振控制方法 | ||
| 申请号 | CN201410787519.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104536146A | 公开(授权)日 | 2015.04.22 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 金春水;代晓珂 |
| 主分类号 | G02B27/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B27/28(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I |
| 专利有效期 | 使用在光纤点衍射干涉仪波面参考源中的偏振控制方法 至使用在光纤点衍射干涉仪波面参考源中的偏振控制方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种使用在光纤点衍射干涉仪波面参考源中的偏振控制方法,光纤衍射球面波经高质量准直镜头准直后经过放在单轴位移台上的可旋转偏振片、处于通孔的双层密度盘、放在单轴位移台上的五棱镜以及光功率计,使用可旋转偏振片通过理论计算可以确定初始光束的偏振态;然后用单轴位移台将可旋转偏振片移出光路,将双层密度盘转到圆偏振光检测状态即1/4波片+偏振片,用上一步得到的初始光束偏振态计算出偏振控制器两个控制通道的控制电压,再经过微调,观察光功率计示数到消光即可得到圆偏振态。此系统可以在不给波面参考源引入额外误差的前提下,实现圆偏振态的快速调节,能够有效提高干涉条纹的对比度以及检测精度。 | ||
交易流程
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