专利详情

专利名称	测量大直径圆环面平面度的装置及方法
申请号	CN201410788237.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104515481A	公开（授权）日	2015.04.15
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	陈宝刚;张景旭;吴小霞;徐伟;张岩
主分类号	G01B11/30(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/30(2006.01)I
专利有效期	测量大直径圆环面平面度的装置及方法至测量大直径圆环面平面度的装置及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	测量大直径圆环面平面度的装置及方法，涉及机械加工装调检测领域的测量技术，解决现有圆环平面度的测量装置存在结构复杂和使用受限的问题，现在测量方法由于存在测量精度低而导致测量误差大等问题，包括精密转台、内调焦光管、光纤点光源、转台调平机构、测杆和CCD探测器。本方法首先利用内调焦光管把光纤点光源成像在被测圆环面上方，精密转台带动点光源的像点旋转在空间画圆，然后以此圆所在的平面为基准，用CCD探测器接收点光源像点，根据脱靶量测出被测点与基准平面的距离，最后通过数据处理计算即可得到被测圆环面的平面度。本发明测量精度高，数据处理简单，操作方便，效率高，成本低；本发明适用于大尺寸圆环件平面度的检测。