专利详情

专利名称	白光干涉仪干涉条纹展宽方法
申请号	CN201410788280.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104515482A	公开（授权）日	2015.04.15
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	王绍治;刘健;隋永新;杨怀江
主分类号	G01B11/30(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/30(2006.01)I
专利有效期	白光干涉仪干涉条纹展宽方法至白光干涉仪干涉条纹展宽方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	白光干涉仪干涉条纹展宽方法，涉及光学检测领域中的一种干涉条纹展宽方法。本发明的目的在于提供一种白光干涉仪的自动条纹展宽方法，在提高测量效率的同时，降低操作难度与工作量。该方法实施步骤为：首先调节白光干涉仪至条纹出现在屏幕中心处；然后计算屏幕四个子区域的条纹强度；计算两个条纹较强子区域的条纹方向；通过两区域中心沿各自条纹方向作虚拟直线并计算交点屏幕坐标；将该屏幕坐标转换为实际位置偏移，并根据元件曲率半径控制镜头摆动角度；重复以上过程直至条纹满足测量要求。本方法采用图像处理技术，不需外加传感器，计算简单，调节周期短，对于一般情况条纹，经过3～5次调节即可满足测量要求。