专利详情

专利名称	X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置
申请号	CN201410840694.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104504710A	公开（授权）日	2015.04.08
申请（专利权）人	中国科学技术大学	发明（设计）人	吴自玉;韩华杰;王圣浩;张灿;杨萌;王志立;高昆
主分类号	G06T7/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06T7/00(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I
专利有效期	X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置至X射线光栅相位衬度成像中摩尔条纹的识别方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种X射线光栅相位衬度成像中的摩尔条纹的识别方法及装置，所述方法包括：步骤1：对待识别的摩尔条纹图像进行光照不均匀修正；步骤2：对经过光照不均匀修正后的摩尔条纹图像进行滤波；步骤3：对滤波后的摩尔条纹图像进行二值化，获得二值化图像；步骤4：对所述二值化图像进行细化，以提取二值化图像中摩尔条纹的中心线；步骤5：根据所提取的摩尔条纹的中心线识别摩尔条纹的精确位置。本发明提供的方法实现了摩尔条纹角度和方向计算的自动化，避免的仪器使用者的主观因素导致的误差，并且仪器调节速度大大提高，精确度也得到了很好的保证。