专利详情

专利名称	基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法
申请号	CN201410838077.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104501949A	公开（授权）日	2015.04.08
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	方伟;杨振岭;叶新;衣小龙
主分类号	G01J1/56(2006.01)I	IPC主分类号	G01J1/56(2006.01)I
专利有效期	基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法至基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	基于替代法和探测器效率的腔体吸收率测量方法属于光辐射计量领域，本发明的标准不确定度优于0.001％，不仅适用于高吸收率腔体吸收率测量，也适用于一般腔体的吸收率测量。采用这种方法测得斜底腔吸收率为0.999928±0.000005。在测量过程中，将激光通过半透半反镜分为测量光束和参考光束，使用参考光路监测激光稳定性，同时测量信号电压，将信号光路与参考光路信号电压的比值定义为探测器效率。由激光漂移导致的随机误差的变化趋势对于测量光路与参考光路是相似的，因此，通过两个信号作比值，可以降低随机误差。通过探测器效率测量腔体吸收率，可以提高标准不确定度，实现高吸收率腔体的吸收率测量。