专利详情

专利名称	一种图像传感器特性参数测量分析系统
申请号	CN201410838194.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104469356A	公开（授权）日	2015.03.25
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	秦琦;吴南健;冯鹏;刘力源
主分类号	H04N17/00(2006.01)I	IPC主分类号	H04N17/00(2006.01)I
专利有效期	一种图像传感器特性参数测量分析系统至一种图像传感器特性参数测量分析系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种图像传感器特性参数测量分析系统，其集成了可配置光源、探测器室、控制终端。其中可配置光源包括光源控制器、激光光斑光源、脉冲激光光源、数字白光光源，构成本测量分析系统的信号光源。探测器室包括核心控制板、光路模块、定位执行机构和整体暗箱，用于样品定位、光路聚焦及任务设备控制。控制终端包括高可靠嵌入式多核处理器、高速数据采集与存储模块、物理参数测试分析模块、ADC阵列测试模块、精密程控电源，为本系统提供电源，进行数据采集、参数计算和人机交互。本发明可一体化实现针对图像传感器的：器件物理参数测量、电路特性参数测量、图像数据高速捕捉和回放。