专利详情

专利名称	一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法
申请号	CN201410737484.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104458586A	公开（授权）日	2015.03.25
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	何星;董理治;王帅;杨平;许冰
主分类号	G01N21/17(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/17(2006.01)I
专利有效期	一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法至一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种在光反馈光腔衰荡技术中筛选衰荡信号的方法，其特征在于由预采集的光腔衰荡系统的衰荡信号计算系统噪声的平均值和标准差，记录噪声样本，计算噪声对特定衰荡时间常数提取方法的提取精度的影响，利用数据查找算法求得该提取方法达到预定提取精度所需要的信号幅值条件。根据信号幅值条件筛选衰荡信号。本方法基于信号噪声统计特性获得对应于特定衰荡时间常数提取方法的最优噪声阈值条件，综合考虑了测量精度和速度的相互制约关系，保证测量精度的同时提高了测量速度。