专利详情

专利名称	用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统
申请号	CN201410620550.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104459966A	公开（授权）日	2015.03.25
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	蔡燕民;王向朝;张友宝;步扬;唐锋;黄惠杰
主分类号	G02B21/02(2006.01)I	IPC主分类号	G02B21/02(2006.01)I;G02B13/00(2006.01)I;G02B1/00(2006.01)I
专利有效期	用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统至用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种用于可见-紫外检测显微镜的成像光学系统，沿其光轴方向依次包括第一透镜、第二透镜、第三透镜、…、直到第十八透镜，其中第一透镜至第四透镜组成第一镜组G1，其组合焦距为200mm，第五透镜至第十八透镜组成第二镜组G2，其组合焦距为4mm，物面到像面的放大倍率为1/50倍，物方视场半径为10mm，实现像方数值孔径为0.85。本发明全部采用高透过率的i线玻璃，成像质量接近完善成像，并且结构紧凑，完全可满足用于可见-紫外检测显微镜的技术要求。