一种测量大天顶距处的大气折射值的方法和系统
- 申请号:CN201410625433.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海天文台
- 公开(公开)号:CN104458653A
- 公开(公开)日:2015.03.25
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种测量大天顶距处的大气折射值的方法和系统 | ||
| 申请号 | CN201410625433.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104458653A | 公开(授权)日 | 2015.03.25 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院上海天文台 | 发明(设计)人 | 曹建军;于涌;赵铭;唐正宏 |
| 主分类号 | G01N21/41(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/41(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种测量大天顶距处的大气折射值的方法和系统 至一种测量大天顶距处的大气折射值的方法和系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供一种测量大天顶距处的大气折射值的方法,包括:S0,提供望远镜、图像采集终端、处理器及包括两块反射镜以使望远镜具有第一、第二视场的角反射器;测量两块反射镜之间的实际夹角L0;S1,通过用第一、第二视场观测位于小、大天顶距处的两个不同天区,并提取图像采集终端采集的星象图像;S2,区分星象图像中的观测星象分别来自哪个天区,并获取各观测星象对应的天球坐标;S3,将天顶标记为Z,根据各观测星象对应的天球坐标解算出第一、第二视场的实际视场中心σ0和σ1对应的地平坐标(A0,h0)和(A1,h1);S4,根据Z、A0、A1以及L0获取第二视场的实际视场中心σ1处的大气折射值。本发明避免了地方参数和仪器参数等系统误差的影响,消除了累积测量误差,提高了测量精度。 | ||
交易流程
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