
一种副镜面型检测电路
- 申请号:CN201420557330.6
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所;杭州墨锐机电科技有限公司
- 公开(公开)号:CN204214396U
- 公开(公开)日:2015.03.18
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种副镜面型检测电路 | ||
申请号 | CN201420557330.6 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN204214396U | 公开(授权)日 | 2015.03.18 |
申请(专利权)人 | 中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所;杭州墨锐机电科技有限公司 | 发明(设计)人 | 刘敬彪;左恒;黄峰;何淑飞;于海滨 |
主分类号 | G01B7/16(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B7/16(2006.01)I;G01B7/28(2006.01)I |
专利有效期 | 一种副镜面型检测电路 至一种副镜面型检测电路 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型实施例公开了一种副镜面型检测电路,包括设置在望远镜的副镜上的涂电容,涂电容检测电路,主控电路和电源电路,所述涂电容检测电路的两输入端连接涂电容两极,所述涂电容检测电路的输出端连接主控电路的输入端,所述主控电路的控制信号输出端连接电容检测电路的输入端,所述电源电路的输入端连接12V直流电压输入,所述电源电路的3.3V电压输出端连接涂电容检测电路和主控电路的电源输入端。本实用新型用于利用设置涂电容的方式,通过测量涂电容的电容量大小来间接测量副镜的形变量,测量准确度高。 |
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