专利详情

专利名称	一种实时原位定量测定聚合物薄膜内溶液质量及其粘弹性的方法
申请号	CN201410609737.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104390878A	公开（授权）日	2015.03.04
申请（专利权）人	中国科学院化学研究所	发明（设计）人	褚虓;赵江;杨京法
主分类号	G01N5/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01N5/02(2006.01)I;G01N11/00(2006.01)I
专利有效期	一种实时原位定量测定聚合物薄膜内溶液质量及其粘弹性的方法至一种实时原位定量测定聚合物薄膜内溶液质量及其粘弹性的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种测量聚合物薄膜内溶液质量及其粘弹性的方法，包括如下步骤：1)在石英晶体微天平中，实时记录溶液引起的标准芯片的频率和耗散变化值和溶液引起的覆盖有聚合物薄膜的标准芯片的频率和耗散变化值，两者相减，即可得到聚合物薄膜内溶液的频率和耗散变化值；2)以倍频数和聚合物薄膜内溶液的耗散变化值的乘积为横坐标，以聚合物薄膜内溶液的频率变化值和倍频数的比值为纵坐标作线性回归方程，则线性回归方程在纵坐标轴上的截距为聚合物薄膜内溶液质量，线性回归方程的斜率为聚合物薄膜的推迟时间。该方法可在液态环境中实时、简易而准确地测得薄膜中的溶液质量和薄膜粘弹性。特别适用于测量由于高度水合溶胀带来的高粘弹性的聚电解质刷。