一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法
- 申请号:CN201410599230.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN104374738A
- 公开(公开)日:2015.02.25
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法 | ||
| 申请号 | CN201410599230.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104374738A | 公开(授权)日 | 2015.02.25 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 张丽萍;李卫军;董肖莉;覃鸿 |
| 主分类号 | G01N21/359(2014.01)I | IPC主分类号 | G01N21/359(2014.01)I |
| 专利有效期 | 一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法 至一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于近红外提高鉴别结果的定性分析方法,该方法包括:步骤1:采集样本的近红外光谱数据,并确定建模集和测试集;步骤2:对建模集和测试集依次进行预处理、偏最小二乘特征提取和正交线性鉴别特征提取;步骤3:采用直接模型传递方法计算建模集和测试集之间的光谱变换矩阵,并校正剩余测试集;步骤4:建立定性分析模型;步骤5:利用建立的定性分析模型对剩余测试集进行定性鉴别。本发明建立在近红外定性分析基础上,在特征提取步骤中使用了在多分类和二分类问题中都能使用的正交线性鉴别方法;除此之外,通过直接模型传递方法能够校正测试集,从而能够解决同一台仪器长时间的光谱偏移带来的模型适用性问题,提高定性鉴别的结果。 | ||
交易流程
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