专利详情

专利名称	一种透镜折射率干涉测量方法
申请号	CN201410653561.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104374548A	公开（授权）日	2015.02.25
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	毛洁;侯溪;伍凡
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	一种透镜折射率干涉测量方法至一种透镜折射率干涉测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种透镜折射率干涉测量方法，该方法首先通过移动被测透镜，使干涉仪出射的平行光束经过标准镜头后会聚在被测透镜表面。然后采用双路测距干涉仪进行距离测量及面形误差补偿，获取被测透镜前后表面顶点处两次定位的位置坐标，利用光线追迹公式计算透镜折射率。该方法使用的测量装置包括干涉仪，标准物镜，激光测距仪，五维调整架及移动导轨。其中标准物镜和被测透镜依次放在干涉仪光源出射光线方向。被测透镜固定在五维调整架上，可在导轨上移动。本发明利用干涉法对透镜表面定位及位置补偿，实现了透镜折射率的非接触测量。