专利详情

专利名称	一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法
申请号	CN201410685965.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104374676A	公开（授权）日	2015.02.25
申请（专利权）人	中国科学技术大学	发明（设计）人	周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强
主分类号	G01N15/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01N15/02(2006.01)I
专利有效期	一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法至一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法，该方法分析被光阱俘获颗粒位移的功率谱，该信号包括受限布朗运动对应的洛仑兹分布和受迫运动的尖峰。根据尖峰相对洛仑兹分布围绕的面积与峰的高度，反演该光阱中微粒被位置探测器探测时的电压比例系数，根据标准尺寸微粒粒径，测量粘滞系数与温度的比值。根据粘滞系数与温度的关系，获得光阱中的温度。采集待测微粒在光阱中的受迫运动信号，然后使用功率谱校准探测器对该微粒的电压比例系数。由热噪声的功率谱获得扩散系数，根据标准微粒测量的温度和粘滞系数以及Stokes-Einstein关系即可确定颗粒半径。该方法可以检测出实验环境中单个颗粒的粒径，即可原位高精度检测粒径。