专利详情

专利名称	基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法
申请号	CN201410685961.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104390895A	公开（授权）日	2015.03.04
申请（专利权）人	中国科学技术大学	发明（设计）人	周金华;李迪;李银妹;钟敏成;王自强
主分类号	G01N15/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01N15/02(2006.01)I
专利有效期	基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法至基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于显微成像的图像灰度测量颗粒粒径的方法，该方法在显微镜上拍摄离散的标准尺寸颗粒图像，然后沿x或者y方向测量颗粒边缘的灰度分布曲线与背景灰度水平线的交点的间距，逐行/逐列扫描间距，最大值为该方向上测量的图像直径。沿z方向扫描不同离焦区域，测量颗粒离焦成像时的图像直径，最小的图像直径为颗粒在显微图像上的等效直径。采用测量等效直径的方法，测量一系列尺寸标准颗粒的等效直径，建立颗粒等效直径和真实直径的特征曲线，该曲线表征了拍摄显微图片仪器的测量颗粒的特性。对尺寸落在特征曲线范围内的待测颗粒，直接测量其等效直径，根据特征曲线即可精确地得到未知颗粒的真实直径。