一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法
- 申请号:CN201410567386.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院地质与地球物理研究所
- 公开(公开)号:CN104330428A
- 公开(公开)日:2015.02.04
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法 | ||
| 申请号 | CN201410567386.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104330428A | 公开(授权)日 | 2015.02.04 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明(设计)人 | 刘艳红;薛丁帅;王红月 |
| 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法 至一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种应用X荧光熔融法测定石膏中主次元素含量的方法,其按照先后顺序包括以下步骤:将标准样品烘干至恒重,取出冷却至室温;称取标准样品灼烧至恒重,取出冷却至室温;称取助熔剂与标准样品混合均匀;加入脱模剂置于熔融炉上熔解,制得标准样品的熔融玻璃片;应用X荧光光谱仪分析标准样品的熔融玻璃片,测定各种元素的谱线强度,建立各种元素谱线强度与该元素已知含量之间的回归方程;选取待测样品,重复上述步骤,利用满足要求的X荧光熔融法测定该待测样品中主次元素的含量。该发明的测定方法操作简单、分析速度快、结果精确,可同时测定石膏中各种元素的含量,建立了一种适用于石膏中主次元素含量测定和分析的普遍适用方法。 | ||
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