X射线断层扫描方法和系统
- 申请号：CN201410572852.8
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院深圳先进技术研究院
- 公开(公开)号：CN104323787A
- 公开(公开)日：2015.02.04
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | X射线断层扫描方法和系统 | ||
| 申请号 | CN201410572852.8 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104323787A | 公开（授权）日 | 2015.02.04 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 发明（设计）人 | 桂建保;陈垚;郑海荣;张成祥;洪序达 |
| 主分类号 | A61B6/00(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | X射线断层扫描方法和系统 至X射线断层扫描方法和系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种X射线断层扫描方法，所述方法包括：通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压，控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描；利用平板探测器接收透过所述被检测对象的X射线，获得多角度的X射线投影图像；采集所述X射线投影图像的数据，并对采集到的数据进行重建得到所述被检测对象的断层图像。采用该方法，既能提高空间分辨率又能提高扫描速度。此外，还提供一种X射线断层扫描系统。 | ||
交易流程
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