PNIN型InGaAs红外探测器
- 申请号:CN201410508495.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN104319307A
- 公开(公开)日:2015.01.28
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | PNIN型InGaAs红外探测器 | ||
| 申请号 | CN201410508495.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104319307A | 公开(授权)日 | 2015.01.28 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 张志伟;缪国庆;宋航;蒋红;黎大兵;孙晓娟;陈一仁;李志明 |
| 主分类号 | H01L31/101(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/101(2006.01)I;H01L31/105(2006.01)I;H01L31/0304(2006.01)I |
| 专利有效期 | PNIN型InGaAs红外探测器 至PNIN型InGaAs红外探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供一种PNIN型InGaAs红外探测器,涉及光电子材料与器件的应用领域。PNIN型InGaAs红外探测器,该探测器是依次包括衬底、缓冲层、扩展波长的InGaAs吸收层、n型插入层和盖层的PNIN型探测器结构;其中,所述的n型插入层的厚度为50nm~150nm,其组分与所述扩展波长的InGaAs吸收层的组分相同。本发明的红外探测器增加的n型插入层能够通过产生带阶,抑制载流子的输运,导致暗电流降低,进而提高红外探测器的光电性能。同时降低了对InGaAs材料外延生长的要求,并可在更广泛的波长范围工作。本发明的红外探测器适用于背面进光及倒扣封装结构,具有很好的通用性。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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