一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置
- 申请号:CN201410648131.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号:CN104316183A
- 公开(公开)日:2015.01.28
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 | ||
| 申请号 | CN201410648131.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104316183A | 公开(授权)日 | 2015.01.28 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院光电研究院 | 发明(设计)人 | 景娟娟;周锦松;张雪静;李雅灿;曾晓茹 |
| 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 至一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置,其中校正方法包括计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离,选择距离最小的位置点s及中心波长为λm,s,在相邻的光谱通道上选择与s相邻的位置点及中心波长;计算s对应的中心波长λm,s与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离,以及相邻位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离;根据上述距离计算结果计算s对应的中心波长λm,s的反距离权重值,以及相邻位置点对应的中心波长的反距离权重值;根据上述反距离权重值计算结果计算第m列对应无偏离中心波长λj的光谱辐射能量值。采用反距离权重法进行谱线弯曲校正,可以提高校正光谱的精度,算法简单,计算速度快。 | ||
交易流程
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专利 -
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