一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪装调方法
- 申请号：CN201410563371.0
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电研究院
- 公开(公开)号：CN104280121A
- 公开(公开)日：2015.01.14
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪装调方法 | ||
| 申请号 | CN201410563371.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104280121A | 公开（授权）日 | 2015.01.14 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 杜述松;相里斌;才啟胜;张金刚 |
| 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪装调方法 至一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪装调方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪装调方法，该方法只需用到平面反射镜、转台、高度标记装置、小孔光阑以及准直光源即可，不仅解决双光栅刻线方向的严格平行还解决双光栅表面之间的严格平行问题，确保了通过大孔径空间外差干涉光谱成像技术获得干涉图的正确性。 | ||
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