专利详情

专利名称	一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列的装置
申请号	CN201420536279.0	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN204086560U	公开（授权）日	2015.01.07
申请（专利权）人	中国科学技术大学	发明（设计）人	阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍
主分类号	G01T1/36(2006.01)I	IPC主分类号	G01T1/36(2006.01)I;G01T1/40(2006.01)I
专利有效期	一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列的装置至一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列的装置	法律状态
说明书摘要	本实用新型公开了一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列装置，包括：铅准直体、吸收体阵列、光电探测器，在铅准直体内部有一排孔，一排孔的前部分为准直孔，用于放置吸收体阵列，一排孔的后部分为光电探测器安置孔，用于安装光电探测器，准直孔和光电探测器安置孔是共轴且相连的，但是孔直径大小不一样，吸收体阵列与光电探测器是紧挨着放置；X射线通过准直孔同时被内置的吸收体阵列部分衰减，出射的X射线被光电探测器探测到。本实用新型集准直孔、吸收体、探测器安置于一体，采用等能量间隔的设计原则，使得测量的一组数据比较离散，相互影响小，从而解谱更精确。