一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列
- 申请号：CN201420536276.7
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学技术大学
- 公开(公开)号：CN204086559U
- 公开(公开)日：2015.01.07
- 法律状态：
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专利详情
| 专利名称 | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 | ||
| 申请号 | CN201420536276.7 | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN204086559U | 公开（授权）日 | 2015.01.07 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 阴泽杰;蒋春雨;曹靖;杨青巍 |
| 主分类号 | G01T1/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/36(2006.01)I;G01T1/40(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 至一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列 | 法律状态 | |
| 说明书摘要 | 一种用于测量高通量X射线能谱的吸收体阵列，由不同长度的吸收体构成，所述不同长度的吸收体的设计原则为等能量间隔衰减原则，即当入射的X射线能量在被测能量范围内是均匀分布时，经过吸收体阵列衰减后，出射的X射线的能量衰减是等间隔的。本实用新型的优点是数据之间彼此离散，串扰减小，解谱精度提高。 | ||
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