专利详情

专利名称	基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统
申请号	CN201420462978.5	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN204086126U	公开（授权）日	2015.01.07
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	王玘;袁小文;孙聊新;张波;陆卫
主分类号	G01N21/25(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/25(2006.01)I
专利有效期	基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统至基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统	法律状态	授权
说明书摘要	本专利公开了一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统，它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现：根据激光双调制工作原理，将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光，低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光，然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面，单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处，通过电机控制对样品面进行二维扫描，获得相关光学信号。本专利实现了纳米量级区域的光谱探测，有效地消除了背景反射光的干扰，可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。