
一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置
- 申请号:CN201420444702.4
- 专利类型:实用新型
- 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN204085533U
- 公开(公开)日:2015.01.07
- 法律状态:
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专利详情
专利名称 | 一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 | ||
申请号 | CN201420444702.4 | 专利类型 | 实用新型 |
公开(公告)号 | CN204085533U | 公开(授权)日 | 2015.01.07 |
申请(专利权)人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 盛立志;刘永安;陈琛;周雁楠;赵宝升;代锦飞;李林森 |
主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I;G01T1/36(2006.01)I |
专利有效期 | 一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 至一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 | 法律状态 | |
说明书摘要 | 本实用新型涉及一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置。包括包括X射线脉冲产生系统及标准探测器标定系统;上述X射线脉冲产生系统生成X射线脉冲经标准探测器标定系统测试标定光源。本实用新型提供了一种造价低廉、设备精巧、科学合理、参数量化、性能稳定的X射线脉冲探测器测试标定光源的装置。 |
交易流程
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