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一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置

  • 申请号:CN201420444702.4
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN204085533U
  • 公开(公开)日:2015.01.07
  • 法律状态:
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置
申请号 CN201420444702.4 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN204085533U 公开(授权)日 2015.01.07
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 盛立志;刘永安;陈琛;周雁楠;赵宝升;代锦飞;李林森
主分类号 G01C25/00(2006.01)I IPC主分类号 G01C25/00(2006.01)I;G01T1/36(2006.01)I
专利有效期 一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 至一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置 法律状态
说明书摘要 本实用新型涉及一种X射线脉冲探测器测试标定光源的装置。包括包括X射线脉冲产生系统及标准探测器标定系统;上述X射线脉冲产生系统生成X射线脉冲经标准探测器标定系统测试标定光源。本实用新型提供了一种造价低廉、设备精巧、科学合理、参数量化、性能稳定的X射线脉冲探测器测试标定光源的装置。

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