专利详情

专利名称	检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法
申请号	CN201410427325.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104215174A	公开（授权）日	2014.12.17
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	张雪鹏;孙强;吴宏圣
主分类号	G01B11/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/00(2006.01)I
专利有效期	检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法至检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法，涉及光电测量领域，填补了检测滑架的五个轴承与主光栅是否离位的方法空白的问题。该方法包括以下步骤：主光栅与滑架定位后，在主光栅上与滑架的五个轴承对应的位置镀上铬层，铬层厚度满足导电即可；在铬层上引出导线，两个导线之间连接万用表；将导电的滑架放置在主光栅上，利用万用表测量铬层引出的导线之间是否导通，导通则说明导线之间对应的滑架的轴承与主光栅接触良好，不导通则说明对应的滑架的轴承与主光栅之间出现离位。本发明的检测方法操作简单，可靠性高，易于实现，成本低。