专利详情

专利名称	一种差分天线测量方法
申请号	CN201410449847.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104198824A	公开（授权）日	2014.12.10
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	卢伟;纪奕才;方广有
主分类号	G01R27/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01R27/28(2006.01)I;G01R27/06(2006.01)I
专利有效期	一种差分天线测量方法至一种差分天线测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种差分天线测量方法，尽量减少了巴伦的使用，在必须使用巴伦的情况下对巴伦特性做了全面的测量，并在后续的数据处理中消除了巴伦引入的测量误差，使测量更加精确；相对于传统测量方法精度更高，引入误差较小，可以广泛应用于差分天线测量中；本发明在测量过程中合理使用匹配负载减小了差分天线单端测量时悬空的天线臂对于天线特性的不利影响，并通过功率合成的方式真实的反映了天线的阻抗特性和辐射特性；实现了利用同轴电缆对差分天线的测量。本测量方法充分考虑了天线的应用环境，所有测量均模拟天线真实环境，获得的测量结果能够与天线应用时的特性保持一致。