专利详情

专利名称	FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法
申请号	CN201410419050.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104181421A	公开（授权）日	2014.12.03
申请（专利权）人	中国科学院空间科学与应用研究中心	发明（设计）人	朱翔;封国强;韩建伟;姜昱光;上官士鹏;马英起;陈睿;余永涛
主分类号	G01R31/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01)I;G01R31/3193(2006.01)I
专利有效期	FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法至FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，包括：控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；上位机控制模块(12)与控制电路模块(11)连接，控制电路模块(11)连接到可控脉冲激光模块(15)，在测试时，控制电路模块(11)还分别连接到被测FPGA器件(13)以及与被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)。