专利详情

专利名称	一种小角度测量的结构光方法
申请号	CN201410475833.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN104180778A	公开（授权）日	2014.12.03
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	赵文川;李璐璐;范斌
主分类号	G01B11/26(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/26(2006.01)I
专利有效期	一种小角度测量的结构光方法至一种小角度测量的结构光方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种小角度测量的结构光方法，测量系统包括CCD摄像机、显示屏和计算机。在显示屏上显示特征图样，并投影在被测物体或固定在物体上的反射镜，经反射后由摄像机进行拍摄。CCD拍摄记录下反射回来的特征图样，也就是CCD拍摄记录下显示屏由反射镜形成的虚像。当物体发生转动时，摄像机所拍摄的虚像也会发生转动。对转动前后的虚像进行分析，计算出其转动角度。根据光线反射定律，该角度的一半即为物体转动的角度。本发明结构简单、使用方便、灵敏度高，对环境无特殊要求，可在车间环境中进行检测。