航天电子器件检测装置
- 申请号:CN201410425877.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN104181423A
- 公开(公开)日:2014.12.03
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 航天电子器件检测装置 | ||
| 申请号 | CN201410425877.5 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN104181423A | 公开(授权)日 | 2014.12.03 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 唐传军;周斌;沈绍祥;方广有 |
| 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 航天电子器件检测装置 至航天电子器件检测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明属于检验检测技术领域,具体涉及一种电子器件检测装置。航天电子器件检测装置,技术方案是,电路板(3)以及导向柱(4)固定安装于固定板(1),滑动组件(5)安装在套接有弹簧(6)的导向柱(4)上,弹簧(6)的两端分别与滑块(52)、固定板(1)相抵触;检测时,将待检测的电子器件放置于电路板(3)上,下移滑块(52),令滑柱组件(51)上的绝缘压件(56)以及中心柱压件(57)在滑柱压簧(53)的作用下将器件弹性压接在电路板(3)上,器件的管脚与测试用触点(31)弹性接触,利用锁定组件将滑动组件(5)的位置固定,通过测试用接头(32)接通电路板(3)即可进行检测;本发明适用于多种相同类型器件性能检测。 | ||
交易流程
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