基于量子点锁模激光器的光采样系统
- 申请号：CN201410444330.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号：CN104155721A
- 公开(公开)日：2014.11.19
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 基于量子点锁模激光器的光采样系统 | ||
| 申请号 | CN201410444330.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN104155721A | 公开（授权）日 | 2014.11.19 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 王文亭;刘建国;孙文惠;李伟;陈伟;祝宁华 |
| 主分类号 | G02B6/293(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B6/293(2006.01)I |
| 专利有效期 | 基于量子点锁模激光器的光采样系统 至基于量子点锁模激光器的光采样系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于量子点锁模激光器的光采样系统，该系统包括：多个量子点锁模激光器、波分复用器、偏振控制器、光放大器、第一环形器、色散位移光纤、第二环形器、任意波形发生器、采样器、波分解复用器、多个光电探测器和多个电信号处理模块。本发明基于量子点锁模激光器、波分复用技术以及布里渊均衡器来实现光采样，系统结构简单，能够实现宽带、全光采样，而且在保证高采样率的情况下，采样精度更高。 | ||
交易流程
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