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减小GaN基蓝紫光端发射激光器电子泄漏的方法

  • 申请号:CN201410204718.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103956653A
  • 公开(公开)日:2014.07.30
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 减小GaN基蓝紫光端发射激光器电子泄漏的方法
申请号 CN201410204718.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103956653A 公开(授权)日 2014.07.30
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 乐伶聪;赵德刚;江德生;刘宗顺;陈平;杨静;何晓光;李晓静;杨辉
主分类号 H01S5/06(2006.01)I IPC主分类号 H01S5/06(2006.01)I
专利有效期 减小GaN基蓝紫光端发射激光器电子泄漏的方法 至减小GaN基蓝紫光端发射激光器电子泄漏的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种减小GaN基蓝紫光端发射激光器中电子泄漏的方法,包括以下步骤:步骤1:在一蓝宝石衬底上依序制作低温成核层、n型接触和电流扩展层、n型AlGaN限制层、n型GaN波导层、InGaN/GaN量子阱有源区、InGaN插入层、AlGaN电子阻挡层、p型GaN波导层、p型AlGaN限制层和p型GaN接触层;步骤2:采用光刻的方法,在p型GaN接触层上面的一侧向下刻蚀,刻蚀深度到达n型接触和电流扩展层,使n型接触和电流扩展层的表面形成一台面;步骤3:在n型接触和电流扩展层表面形成的台面上制作n型电极;步骤4:在p型GaN接触层的上表面制作一p型电极,完成制备。本发明可以提高电子跃过AlGaN电子阻挡层的有效势垒高度,从而减小电子泄漏,提高GaN基蓝紫光激光器性能。

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