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波导阵列天线高功率性能测试装置

  • 申请号:CN201410095103.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院等离子体物理研究所
  • 公开(公开)号:CN103954856A
  • 公开(公开)日:2014.07.30
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 波导阵列天线高功率性能测试装置
申请号 CN201410095103.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103954856A 公开(授权)日 2014.07.30
申请(专利权)人 中国科学院等离子体物理研究所 发明(设计)人 刘亮;赵连敏;刘甫坤;朱文华
主分类号 G01R31/00(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/00(2006.01)I
专利有效期 波导阵列天线高功率性能测试装置 至波导阵列天线高功率性能测试装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种波导阵列天线高功率性能测试装置,包括微波源,环形器,真空室,真空规管,待测天线单元,波导弧光探测器,陶瓷窗,波导弯头,定向耦合器,阻抗失配器和水负载等。微波源输出大功率微波;环行器用于吸收反射波,保护微波源;真空室用于建立、维持、并改变待测天线单元所处环境的真空度;真空规管用于测量真空室内部的真空度;波导弧光探测器用于探测待测天线单元内部的打火;陶瓷窗实现真空室与微波传输线的气体密封和能量传输;波导弯头用于改变微波传播方向;定向耦合器通过对微波信号进行取样,测量入射和反射功率大小;阻抗失配器的作用是人为引入传输失配,制造所需比例的反射功率;水负载用于吸收近乎全部的入射功率。

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