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用于电池充放电过程的经改进的X射线衍射原位测试装置

  • 申请号:CN201410100240.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN103900744A
  • 公开(公开)日:2014.07.02
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 用于电池充放电过程的经改进的X射线衍射原位测试装置
申请号 CN201410100240.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103900744A 公开(授权)日 2014.07.02
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 张竞择;谢晓华;张建;夏保佳;娄豫皖;杨传铮
主分类号 G01L1/25(2006.01)I IPC主分类号 G01L1/25(2006.01)I
专利有效期 用于电池充放电过程的经改进的X射线衍射原位测试装置 至用于电池充放电过程的经改进的X射线衍射原位测试装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种用于电池充放电过程的经改进的X射线衍射原位测试装置,其特征在于:①圆板底部中央有一根与圆板下底面垂直的转动轴,用于实现侧倾法测应力中的旋转;②圆环转轴一端直接与圆环相连,另一端通过轴承与长方体板相连。使用时,通过转动圆板底部中心的转动轴以实现应力测定的旋转,通过转动与圆环相连的旋转轴能使圆板绕水平轴旋转±90度,以实现应力侧倾法测定中的ψ旋转,ψ旋转轴与衍射仪轴垂直;转动圆板转轴及圆环转轴,在一定的ψ角下进行XRD测试,从所得XRD数据中可计算出(hkl)晶面的晶面间距,结合无应力状态下(hkl)晶面的晶面间距得应变转动圆环转轴,改变ψ角,再进行XRD测试,利用侧倾法的公式即可测定应力。

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