专利详情

专利名称	一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪
申请号	CN201410060561.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103868596A	公开（授权）日	2014.06.18
申请（专利权）人	中国科学院光电研究院	发明（设计）人	相里斌;杜述松;才啟胜
主分类号	G01J3/45(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/45(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I
专利有效期	一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪至一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种大孔径空间外差干涉光谱成像方法及光谱仪，其中，所述方法包括：复合光经分束器后一部分被反射得到反射光，另一部分被透射得到透射光；反射光经反射镜组以及闪耀光栅组后再次经分束器反射到达成像镜，透射光沿着与反射光相反的光路经反射镜组以及闪耀光栅组后到达成像镜，其中，闪耀光栅组包括平行设置的第一闪耀光栅和第二闪耀光栅，入射闪耀光栅组的复合光被衍射成多束相互平行的出射光，且多束出射光与入射光平行；成像镜上得到具有横向剪切量的干涉光，从而在探测器得到干涉信息。加入一对平行的闪耀光栅实现外差的特性，实现采样点数减少以及信噪比提高。