一种地基F-P测风干涉仪
- 申请号:CN201410088053.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院空间科学与应用研究中心
- 公开(公开)号:CN103852809A
- 公开(公开)日:2014.06.11
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种地基F-P测风干涉仪 | ||
| 申请号 | CN201410088053.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103852809A | 公开(授权)日 | 2014.06.11 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明(设计)人 | 付建国;王咏梅;张仲谋;石恩涛;王英鉴 |
| 主分类号 | G01W1/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01W1/02(2006.01)I;G01P5/26(2006.01)I;G01P13/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种地基F-P测风干涉仪 至一种地基F-P测风干涉仪 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种地基F-P测风干涉仪,包括:激光器(11)、散射箱(3)、二维扫描反射镜(1)、标准具(4)、接收系统和成像物镜(2),该成像物镜(2)包括缩束系统(6)、滤光片轮(5)和控焦镜组(19);所述标准具(4)、缩束系统(6)、滤光片轮(5)和控焦镜组(19)沿光输出方向依次同轴排列;所述缩束系统(6)用于将干涉光束缩小口径;所述滤光片轮(5)用于控制光谱带宽;所述控焦镜组(19)用于控制成像物镜焦距,并将干涉光束成像到像面,从而产生干涉圆环。采用该结构,无论通过缩小焦距还是增大标准具口径来增大相对口径来提高系统信噪比,都不会增大滤光片尺寸,因而降低了成本和加工难度。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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