专利详情

专利名称	LED光源阵列投影测试装置
申请号	CN201410077532.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103808496A	公开（授权）日	2014.05.21
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	裴艳荣;杨华;刘立莉;李璟;王军喜;李晋闽
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	LED光源阵列投影测试装置至LED光源阵列投影测试装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种LED光源阵列投影测试装置，该LED光源阵列投影测试装置包括：扩束元件，位于被测试LED光源阵列的光路后端；投影元件，位于扩束元件的光路后端；以及投影面，位于投影元件的光路后端；其中，被测试LED光源阵列发出的光束经由扩束元件进行扩束放大后，由投影元件投影至投影面，被测试LED阵列中的单颗LED光源与投影面上的位置具有对应关系。本发明LED光源阵列投影测试装置仅使用透镜和反射镜即可将光源点阵模块通过类似投影的方式呈现在任意平面上，目测即可快速找到故障点，装置结构简单，测试过程方便快捷、成本较低。