一种测量粒子加速器束流位置的方法
- 申请号:CN201410080631.9
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海应用物理研究所
- 公开(公开)号:CN103809198A
- 公开(公开)日:2014.05.21
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种测量粒子加速器束流位置的方法 | ||
| 申请号 | CN201410080631.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103809198A | 公开(授权)日 | 2014.05.21 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明(设计)人 | 赖龙伟;冷用斌;阎映炳;陈之初 |
| 主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/29(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种测量粒子加速器束流位置的方法 至一种测量粒子加速器束流位置的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种测量粒子加速器束流位置的方法,其包括:步骤S1,通过N个通道对条带束流位置探头的N个电极在束流通过所述探头时输出的N个电极信号进行采样;步骤S2,将所述N个电极信号组成一M*N的矩阵X,并对所述矩阵X进行主成分分析;步骤S3,计算得到所述N个电极分别对应的束流信号感应幅度,并通过所述N个通道分别输出N个所述束流信号感应幅度;步骤S4,对所述N个通道输出的N个所述束流信号感应幅度进行差比和运算,以获得束流的位置信号。本发明通过综合多个电极探头的电极信号组成矩阵,以利用主成分分析法对这些电极信号同时进行处理,从而不仅能够有效消除各电极信号中的噪声,而且还能有效提高束流位置的测量精度。 | ||
交易流程
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